Roque Huanca, D. (2019). Caracterización óptica y estructural de monocapas de silicio poroso por medio de reflectancia en la región visible y rayos X.
Citación estilo ChicagoRoque Huanca, Danilo. Caracterización óptica Y Estructural De Monocapas De Silicio Poroso Por Medio De Reflectancia En La Región Visible Y Rayos X. 2019.
Cita MLARoque Huanca, Danilo. Caracterización óptica Y Estructural De Monocapas De Silicio Poroso Por Medio De Reflectancia En La Región Visible Y Rayos X. 2019.
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